Nikon
株式会社ニコンインストルメンツカンパニー|Japan
ホーム カンパニー案内 製品紹介 技術情報 サービスサポート お問い合わせ  

ソリューションご提案

ページトップへ戻る

高倍微分干渉装置を使った微分干渉観察

微分干渉観察は無染色の標本を光が通過する際の屈折率の違いや、標本表面の形状による光路差(光の進み方の違い)を、明暗 のコントラストに変えて観察する観察法です。
ニコンではシャー量の小さい小シアープリズムを用意し、VEC(Video Enhanced Contrast)法との組合せで、より微細な構造の観察・記録を可能としました。

ページトップへ戻る