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セミナー動画

産業機器製品

CMM-Manager Metrology Software

対象製品:測定ソフトウェア CMM-Manager
講演者:Nathan Frost (Product Manager)

Nexiv Confocal:High Speed - High Accuracy Height and Surface Metrology

対象製品:コンフォーカル NEXIV VMZ-Kシリーズ
講演者:Bahanu Singh (Business Development Manager)

Affordable, Easy SEM Technology from Nikon - 120512

対象製品:卓上走査電子顕微鏡 Neo Scope™ JCM-6000

Streamline Your X-Ray/CT processes, Increase Your Throughput, and Improve Your Bottom Line! - 103112

対象製品:ブレードおよび鋳物のCT検査 XT H 450
講演者:David Bate (Centre of Excellence)

Rapid, High Precision 3D Surface Inspection 062712

対象製品:白色干渉顕微鏡システム BW-S500シリーズ / BW-D500シリーズ
講演者:Dennis Fenn (Tecnichal Expert)

AIM higher with the new LC15Dx Digital Laser Scanner - 060612

対象製品:ラインスキャナー LC60Dx / LC50Cx / LC15Dx
講演者:Alex Lucas (Business Development Manager)

ShuttlePix Digital Microscope Webinar Archive - 012512

対象製品:デジタルマイクロスコープ ShuttlePix(シャトルピクス)

Laser Radar Webinar Archive - 113011

対象製品:Laser Radar MV330 / 350
講演者:Jon Koepl (Sales Specialist)

Xtreme Scanning Webinar Archive - 062211

対象製品:ラインスキャナー LC60Dx / LC50Cx / LC15Dx、
多関節形三次元測定機用レーザースキャナー、
ModelMaker MMDx / MMC
講演者:Alex Lucas (Business Development Manager)