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計測用CTシステム

MCT225

計測用CTシステム MCT225

絶対精度での内部構造計測を実現

50年のCMM技術と25年のX線技術を結集した、計測用CTシステムです。最新の産業標準に準拠した様々なサイズや材質のサンプルに対応。参照測定が不要で、内部・外部寸法を非破壊で効率的な計測が行えます。

主な特長

  • 測定精度9+L/50μm(校正済み、VDI/VDE 2630準拠)
  • フルスクリーン画像用と制御ソフトウェア用のデュアルモニタ
  • 開放管反射型225kVマイクロフォーカスX線源
  • メンテナンスが容易な開放型X線管
  • 高精度マニピュレータ搭載
  • 防護キャビネット(特別な予防策は不要、放射線被曝を抑制)
  • サンプル高さ450mmまで対応

導入効果

  • 一つのシステムに統合された柔軟性: X線ですばやい目視検査、CTで綿密な解析
  • 高速データ取得、高品質画像
  • 対話型ジョイスティックナビゲーションで迅速な操作
  • 高解像度のデジタルイメージングおよび画像処理
  • 特別な予防策やフィルムバッジが不要な安全システム
  • 業界標準の後処理アプリケーションに適合

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